Volume 11, Issue 5, May 2022, Pages 642-650
10.34172/ijhpm.2020.198
Rick A. Vreman; Lourens T. Bloem; Stijn van Oirschot; Jarno Hoekman; Menno E. van der Elst; Hubert GM Leufkens; Olaf H. Klungel; Wim G. Goettsch; Aukje K. Mantel-Teeuwisse