Volume 11, Issue 5, May 2022, Pages 642-650
10.34172/ijhpm.2020.198
Rick A. Vreman, Lourens T. Bloem, Stijn van Oirschot, Jarno Hoekman, Menno E. van der Elst, Hubert GM Leufkens, Olaf H. Klungel, Wim G. Goettsch, Aukje K. Mantel-Teeuwisse